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    26MG腐蝕測厚儀型號

    • 簡單描述
    • 26MG腐蝕測厚儀型號多樣齊全,以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。
    • 更新時間:  2018-05-08
    • 產品型號:  
    詳細介紹
      26MG腐蝕測厚儀型號齊全種類繁多可與雙晶和單晶探頭兼容。
      寬泛的厚度范圍:根據材料和所選探頭而定。
      使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
      穿透涂層和回波到回波測量功能,用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
      內部氧化層/沉積物軟件選項。
      對于所有探頭,標準分辨率為0.01毫米。
      使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
      多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
      高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
      厚度、聲速和渡越時間測量。
      差分模式和縮減率模式。
      時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數。
      帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
      用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。

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